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實(shí)時(shí)頻譜分析儀+近場(chǎng)探頭定位干擾源
  • 發(fā)布日期:2024-04-08      瀏覽次數(shù):381
    • 一、實(shí)時(shí)頻譜儀

             實(shí)時(shí)頻譜分析儀由于在信號(hào)處理過程中能夠利用所采集的時(shí)域采樣點(diǎn),實(shí)現(xiàn)無(wú)縫的頻譜測(cè)量及觸發(fā),使得它在頻譜監(jiān)測(cè)、研發(fā)診斷以及雷達(dá)系統(tǒng)設(shè)計(jì)中有著廣泛的應(yīng)用。SSA3000X-R系列實(shí)時(shí)頻譜分析儀功能豐富、性能優(yōu)異,其頻率范圍為9 KHz-3.2/5.0/7.5 GHz,實(shí)時(shí)分析帶寬可高達(dá)40 MHz,幅度觸發(fā)信號(hào)持續(xù)時(shí)間POI低至7.2μs,無(wú)雜散動(dòng)態(tài)范圍60 dB,同時(shí)具備40 MHz采樣帶寬的矢量信號(hào)數(shù)據(jù)采集和調(diào)制分析功能,可設(shè)定頻率模板觸發(fā)功能,無(wú)縫采集分析被測(cè)信號(hào)(帶寬信號(hào)),捕獲被強(qiáng)信號(hào)掩蓋的小信號(hào),實(shí)時(shí)測(cè)量以調(diào)試跳頻時(shí)間和頻率信號(hào),滴水不漏。

      鼎陽(yáng)實(shí)時(shí)頻譜儀SSA3000X-R主圖1.png

      二、與掃頻式頻譜儀的區(qū)別

      (1)實(shí)時(shí)頻譜分析儀處理被測(cè)信號(hào)時(shí),通過數(shù)字化采集實(shí)時(shí)傳輸,很容易將時(shí)間連續(xù)的樣點(diǎn)存儲(chǔ)在內(nèi)存中,實(shí)時(shí)頻譜分析儀的結(jié)構(gòu)能夠無(wú)縫地捕獲沒有時(shí)間間隔的輸入信號(hào),從而實(shí)時(shí)捕獲并顯示頻譜信息,非常適用于捕捉瞬時(shí)和不規(guī)則的信號(hào),這是傳統(tǒng)掃頻頻譜分析儀不具備的技術(shù)功能。

      (2)寬帶覆蓋:實(shí)時(shí)頻譜分析儀通常在硬件的測(cè)量帶寬范圍內(nèi)可對(duì)多個(gè)信號(hào)同時(shí)進(jìn)行分析,能夠同時(shí)監(jiān)測(cè)多個(gè)頻段,快速識(shí)別出多個(gè)頻率源,支持Density,3D,Spectrogram,PvT等多種顯示方式,多維度觀察復(fù)雜瞬變信號(hào)。

      (3)事件定位:由于實(shí)時(shí)采樣和寬帶覆蓋,實(shí)時(shí)頻譜分析儀具有良好的事件定位能力,可以準(zhǔn)確確定干擾源的位置。

      (4)先進(jìn)處理功能:實(shí)時(shí)頻譜分析儀通常配備多種信號(hào)處理算法,可以提供更多的頻譜分析功能和高級(jí)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù),如光譜圖、概率密度譜和時(shí)間功率等多種顯示方式。


      三、近場(chǎng)探頭

             EM5030/EM5030LF系列探頭組包含了7個(gè)專門用來(lái)測(cè)試磁場(chǎng)(H)探頭,它有效地屏蔽了電場(chǎng)干擾(E),主要用于電磁兼容整改時(shí)定位干擾源的近場(chǎng)探頭。EM5030的頻率范圍是30MHz-3GHz,共4種探頭形狀;EM5030LF的頻率范圍是9kHz-50MHz,共3種探頭形狀。

             EM5030E系列探頭組包含了2個(gè)專門用來(lái)測(cè)試電場(chǎng)(E)的探頭,覆蓋頻率范圍為30MHz到3GHz,主要應(yīng)用于查找電場(chǎng)干擾源,除了探頭其他部分均為屏蔽設(shè)計(jì)。

      近場(chǎng)探頭1.jpg

      四、定位干擾源

             探頭通過50?的電纜直接與頻譜儀或者示波器連接。當(dāng)產(chǎn)品的輻射或傳導(dǎo)干擾超過標(biāo)準(zhǔn)時(shí),可用近場(chǎng)探頭來(lái)尋找產(chǎn)品中哪個(gè)元件或電路產(chǎn)生了該頻率的干擾,能夠檢測(cè)模塊之間的耦合通道以及評(píng)估系統(tǒng)內(nèi)信號(hào)切換速率、RF電壓等。當(dāng)干擾信號(hào)比較弱時(shí),可以配合EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系統(tǒng)測(cè)試靈敏度。

      近場(chǎng)探頭測(cè)試.jpg


      五、與EMI接收機(jī)測(cè)試方案的區(qū)別

      (1)成本低,頻譜儀只需要配合近場(chǎng)探頭,而標(biāo)準(zhǔn)EMI測(cè)試需要暗室等環(huán)境,EMI接收機(jī)搭配喇叭天線、對(duì)數(shù)周期天線等配件,成本居高不下。

      (2)響應(yīng)速度一致,功能更多,實(shí)時(shí)頻譜儀的實(shí)時(shí)分析帶寬可高達(dá)40 MHz,與認(rèn)證級(jí)EMI接收機(jī)相近,提供更多功能,如矢量網(wǎng)絡(luò)分析、調(diào)制分析、反射駐波測(cè)量、無(wú)線連接和移動(dòng)通信測(cè)量等。

      (3)操作簡(jiǎn)單,只需要確認(rèn)頻率范圍,就可通過近場(chǎng)探頭快速定位干擾源。


      六、注意事項(xiàng)

      (1)如果不確定干擾源頻率,可分段掃描,近場(chǎng)探頭頻率與所掃描頻率范圍一致,使用頻譜儀標(biāo)記、跡線功能,移動(dòng)近場(chǎng)探頭,確認(rèn)幅值點(diǎn)變化。

      (2)操作時(shí)避免直接接觸器件,注意人身安全。

      (3)同一設(shè)備在不同工作狀態(tài)、開關(guān)機(jī)會(huì)有區(qū)別,盡可能測(cè)量不同工況下的同一位置頻率變化,避免遺漏。

      (4)避免在強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng)環(huán)境下測(cè)試,無(wú)關(guān)設(shè)備盡量關(guān)閉。


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